Anbudsoversikt for Anskaffelse av én Scanning Electron Microscope (SEM)

NGU søker gjennom en konkurranse med forhandling en leverandør for ett (1) Scanning Electron Microscope (SEM) instrument med flere detektorer, som beskrevet i Appendiks 1&2. Tilbudet skal inkludere frakt, installasjon, opplæring, forbruksvarer, programvarer for styring av instrumentene, andre nødvendige komponenter, m.m.Instrumentet skal anvendes for identifisering og karakterisering av mineraler og andre geologiske materialer vha. SE, BSE, EDS og hyperspektral katodeluminescens CL, samt bildeanalyse i nanometerskala. SEM instrumentet konfigureres slik at ved en senere tidspunkt kan utvides med andre detektorer, som f.eks. ultra-høyoppløselig WDS og µXRF. SEM instrumentet skal ha et prøvekammer egnet for tynnslip i standard petrografisk størrelse (~28×48mm) samt for runde klosser (ø30×15mm), men ikke begrenset til disse. Prøvekammer skal være med «air lock» system. Klikk her https://permalink.mercell.com/133989968.aspx