Anbudsoversikt for Environmental Atomic Force Microscope

Vi planlegger å anskaffe et state-of-the art SPM instrument, inkludert programvare og drivere. Systemet vil bli brukt for å studere de elektroniske nanoskala egenskapene til funksjonelle oksider ved høye temperaturer i en kontrollert atmosfære. I tillegg til nanoskala oppløsning av topografiske egenskaper i AFM-modus vil instrumentet gi mulighet til å kartlegge et vidt spektrum av elektroniske egenskaper ved bruk av avanserte teknikker som f. eks. cAFM, PFM, MFM, KPFM, og EFM blant flere (see appendiks 1 for detaljer). Forskningen som skal gjennomføres krever at eksperimentene blir gjennomført ved temperaturer ≳ 280 oC, samtidig som atmosfærens trykk og sammensetning (f. eks. argon, oksygen eller nitrogen) måles og kontrolleres med høy presisjon.