Prøv Cobrief Pro
Brief

Laboratorie-, optisk- og presisjonsutstyr

Lunds universitet needs a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) for high-resolution imaging, materials analysis, and sample preparation for TEM analysis and MAX IV synchrotron experiments, to be delivered in Skåne län, with a maximum total value of 28,000,000 SEK. The award criteria is Price.

Slipp å lese og skrive alt selv, la Cobrief gjøre det for deg!

Prøv Cobrief Pro

Om anbudet

    Lund Nano Lab (LNL) at Lund University intends to purchase a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope, in this document referred to as the FIB-SEM, instrument or equipment. This document lists all the requirements the FIB-SEM must meet. The instrument is intended to be used for high-resolution imaging, materials analysis and preparing samples for TEM analysis as well as for experiments at the MAX IV synchrotron.

    Kontakt navn
    Sarah Salman
    Kontakt telefon
    0000
    Kontakt e-post
    sarah.salman@eken.lu.se
    Adresse
    Box 188, 221 00 Lund

Kvalifikasjonskrav

Se konkurransedokumentene for kvalifikasjonskrav

Tildelingskriterier

Se hele utlysningen

Innkjøper
Lunds universitet
Tittel
Focused Ion Beam, Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)
Hovedkode
38511100 Elektronrastermikroskoper
Tilleggskoder
Lokasjon
Estimert verdi
28 000 000,00 SEK

Tidslinje

Lenke til deltakelse

Lenke til dokumenter

Kunngjøring i TED

Se aktive konkurranser som ligner