Elektrisk utstyr og belysning
De Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO heeft een aanbesteding uitgeschreven voor de levering van één SEM+FIB-systeem, met een maximale totale contractwaarde van 1.300.000 EUR over een periode van 4 jaar. Het systeem is bedoeld voor materiaalbewerking (snijden), 3D-karakterisering en dwarsdoorsnedeanalyse van epitaxiaal gegroeide InP, InGaAs, InAlGaAs en InGaAsP lagen op InP substraten, die ook polymeergebaseerde planariseringslagen, SiOx of SiNx diëlektrische lagen en TiPtAu of NiGeAu metaallagen kunnen bevatten. De gunningscriteria zijn uitsluitend gebaseerd op prijs (100%).
Slipp å lese og skrive alt selv, la Cobrief gjøre det for deg!
Prøv Cobrief ProOm anbudet
- Kontakt navn
- Rob Ruiter
- Kontakt telefon
- +31 888665653
- Kontakt e-post
- arjan.verhoeven@tno.nl
- Adresse
- Anna van Buerenplein 1, 2595 DA Den Haag
The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem
Kvalifikasjonskrav
Tildelingskriterier
Beskrivelse
TNO heeft alle relevante kwaliteitsaspecten volledig en objectief vastgelegd als minimumeisen. Hierdoor bestaat er geen ruimte voor kwalitatieve differentiatie tussen de inschrijvingen en kan de vergelijking derhalve op transparante wijze uitsluitend op basis van prijs plaatsvinden. Naar het oordeel van TNO is het hanteren van het gunningscriterium laagste prijs binnen deze aanbestedingsprocedure dan ook juridisch verdedigbaar en in overeenstemming met de beginselen van proportionaliteit, zorgvuldigheid en transp
Se hele utlysningen
- Tittel
- Metrology SEM+FIB system
- Tilleggskoder
- Estimert verdi
- 1 300 000,00 €
- Varighet
- 48 måneder