Universitetet I Oslo
SI-Detectors for scanning electron microscopy (SEM)
Universitetet i Oslo trenger SI-detektorer for oppgradering av et Hitachi SU 5000 FEG-SEM mikroskop. Utstyret skal leveres til Oslo.
Nasjonalt cyberkrim senter skal anskaffe en FIB/SEM Dualbeam for materialanalyse og arbeid med halvledermateriale. Systemet skal ha en topp moderne elektron (SEM) og Ga ione (FIB) kolonne. SEM-kolonnen må ha integrerte SE- og BSE-detektorer, samt SE- og-BSE detektorer i kammeret. En EDS detektor for grunnstoffanalyse skal også være inkludert. FIB-kolonnen må ha en SE- og en sekundær ionedetektor. Instrumentet må ha et system for enkle og blandete prosessgasser for både deponering, og selektiv fjerning, av materiale som er nødvendig for manipulering av moderne halvlederteknologi, inkludert fjerning av kobber og low-k dielektrikum. Systemet må ha støtte for navigering på elektronisk kretser inkludert programvare for overlegg av GDS og mikroskopbilder, et kamera i kammeret for enkel navigering, samt et integrert IR-mikroskop for inspeksjon og navigasjon gjennom silisium.
Slipp å lese og skrive alt selv, la Cobrief gjøre det for deg!
Prøv Cobrief ProNasjonalt cyberkrim senter skal anskaffe en FIB/SEM Dualbeam for materialanalyse og arbeid med halvledermateriale. Systemet skal ha en topp moderne elektron (SEM) og Ga ione (FIB) kolonne. SEM-kolonnen må ha integrerte SE- og BSE-detektorer, samt SE- og-BSE detektorer i kammeret. En EDS detektor for grunnstoffanalyse skal også være inkludert. FIB-kolonnen må ha en SE- og en sekundær ionedetektor. Instrumentet må ha et system for enkle og blandete prosessgasser for både deponering, og selektiv fjerning, av materiale som er nødvendig for manipulering av moderne halvlederteknologi, inkludert fjerning av kobber og low-k dielektrikum. Systemet må ha støtte for navigering på elektronisk kretser inkludert programvare for overlegg av GDS og mikroskopbilder, et kamera i kammeret for enkel navigering, samt et integrert IR-mikroskop for inspeksjon og navigasjon gjennom silisium.
Se konkurransedokumentene for kvalifikasjonskrav
Se konkurransedokumentene for tildelingskriterier
Universitetet i Oslo trenger SI-detektorer for oppgradering av et Hitachi SU 5000 FEG-SEM mikroskop. Utstyret skal leveres til Oslo.
Universitetet I Tromsø - Norges Arktiske Universitet trenger et Nanoparticle Tracking Analysis system for Zeta potensial, størrelse, konsentrasjon, og colocalisering av "drug delivery system" i nanoskala. Anskaffelsen gjelder et avansert forskningsinstrument.
Norges Teknisk-naturvitenskapelige Universitet (NTNU) needs a Thermal scanning probe lithography system to be delivered in Trøndelag. The award criteria are prices and costs (25%), proposed solution (55%), and service (20%).
Universitetet I Sørøst-norge trenger en kryogen målerigg med lukket krets for elektriske og optiske målinger ved lave temperaturer.
Kriminalomsorgsdirektoratet trenger en løsning for elektronisk kontroll, inkludert kjøp av programvare og utstyr, samt reparasjon og vedlikehold, for en rammeavtale over 5 år med en maksimal totalverdi på 50 millioner kroner. Løsningen skal fungere som kriminalomsorgens fagsystem for gjennomføring av straff og andre strafferettslige særreaksjoner. Tildelingskriterier og kvalifikasjonskrav finner du i konkurransegrunnlaget.