Søkeresultater for Anbudssøk

Statsbygg har inngått en avtale med Matriks AS, Rigaku Europe SE og Blue Scientific Limited for levering av røntgendiffraksjonsutstyr til Livsvitenskapsbygget for Universitetet i Oslo og Oslo universitetssykehus i Oslo. Avtalen omfatter ett komplett system for en-krystall diffraksjonsstudier av biologiske makromolekyler, inkludert røntgenstrålekilde, detektor, goniometer, PC og programvare, samt et kryo-kjølesystem dedikert til proteinkrystallografi. I tillegg skal det anskaffes ett bordmodell diffraktometer (PXRD) for undervisning og småskala forskningsaktivitet. Den totale verdien av avtalen er 8 002 446 kroner.

Norce Research AS needs a Micro X-ray Fluorescence (XRF) Spectrometer for element analysis in various materials, including composition, element distribution, and layer analysis on even or uneven surfaces, to be delivered DAP to Jon Lilletuns vei 9 H, 3. et, 4879 Grimstad, Norway. The instrument will primarily be used for characterizing rare earth elements in urban mining perception and sensing applications. The contract duration is 24 months. Offers will be evaluated based on Quality (40%), Environment (30%), and Price (30%).

Kripos har inngått en avtale med Matriks AS om å levere et Benchtop Powder X-Ray Diffractometer (XRD) til Oslo, til en verdi av 850 000 kroner. Kvalitet, miljø og pris ble vektlagt i tildelingen.

Universitetet i Oslo har inngått avtale med BlueScientific Ltd for kompetanse til å levere røntgendiffraksjonsutstyr. Anbudets vekting var kvalitet tekniske og funksjonelle løsninger 55%, kvalitet metodikk og programvare for dataanalyse 15%, pris 30%.

Nasjonal infrastruktur for røntgendiffraksjon og spredning ved Universitetet i Oslo skal utvides med ytterligere 2 diffraktometre. Disse tilleggsinstrumentene dekker to behov: a) det rutinemessige pulverdiffraktometeret må skiftes ut etter mer enn 10 års daglig bruk, b) et svært spesifikt instrument vil bli lagt til som er designet for å utføre operandiffraksjonsstudier av batterier.

Ett brukervennlig X-ray diffraction system for strukturelle materialanalyser, spesielt tynnfilmer. Systemet må tillate bruk av både "out of plane" og "in-plane diffraction" målinger av tynnfilmer med tykkelser varierende mellom nanometer og mikrometer området.

Ett brukervennlig X-ray diffraction system for strukturelle materialanalyser, spesielt tynnfilmer. Systemet må tillate bruk av både "out of plane" og "in-plane diffraction" målinger av tynnfilmer med tykkelser varierende mellom nanometer og mikrometer området.

Veiledende kunngjøring for å innhente informasjon fra produsenter av Micro XRF Røntgenmikroanalysatorer og spektrometere