Tildelt

Konkurransen er avsluttet og vinner har blitt valgt.

Brief

Laboratorie- og analyseutstyr

Ett brukervennlig X-ray diffraction system for strukturelle materialanalyser, spesielt tynnfilmer. Systemet må tillate bruk av både "out of plane" og "in-plane diffraction" målinger av tynnfilmer med tykkelser varierende mellom nanometer og mikrometer området.

Slipp å lese og skrive alt selv, la Cobrief gjøre det for deg!

Prøv Cobrief Pro

Resultat

Vinner
Matriks AS
Antall mottatte tilbud
1
Kontraktsverdi
2 920 000 kr

Om anbudet

    Ett brukervennlig X-ray diffraction system for strukturelle materialanalyser, spesielt tynnfilmer. Systemet må tillate bruk av både "out of plane" og "in-plane diffraction" målinger av tynnfilmer med tykkelser varierende mellom nanometer og mikrometer området.

    Kontakt navn
    Ken Rune Myrvang
    Kontakt e-post
    k.r.myrvang@mn.uio.no
    Adresse
    Problemveien 7, 0371 OSLO

Kvalifikasjonskrav

Se konkurransedokumentene for kvalifikasjonskrav

Tildelingskriterier

    Beskrivelse

    Kvalitet

    Beskrivelse

    Service

    Beskrivelse

    Pris

Tidslinje

Se aktive konkurranser som ligner